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GB4943.1標(biāo)準(zhǔn)IP防護(hù)觸及試具照片實(shí)物
日期：2025-12-28 10:50
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摘要：GB4943.1- V.1兒童可觸及設(shè)備鉸接式試驗(yàn)試具
GB4943.1- V.1直式非鉸接試指
GB4943.1-V.2 兒童不可觸及設(shè)備鉸接試驗(yàn)指
GB4943.1-V.2 直式無(wú)關(guān)節(jié)試指
GB4943.1- V.3 鈍頭試具
Figure V.4 楔形試具
GB4943.1- V.5 端子試具
GB4943.1- V.1兒童可觸及設(shè)備鉸接式試驗(yàn)試具
GB4943.1- V.1直式非鉸接試指
GB4943.1-V.2 兒童不可觸及設(shè)備鉸接試驗(yàn)指
GB4943.1-V.2 直式無(wú)關(guān)節(jié)試指
GB4943.1- V.3 鈍頭試具
Figure V.4 楔形試具
GB4943.1- V.5 端子試具
GB4943.1-2022圖V.4楔形試具
V.1.5試驗(yàn)方法4--狹槽開(kāi)孔
按規(guī)定施加圖V.4的楔形試具。
未規(guī)定公差的直線尺寸的公差：
≤25mm:±0.13mm
＞25mm:±0.3mm
注：楔形試具的厚度呈線性變化，沿試具在下列各點(diǎn)的斜率變化：
|
離試具jian端的距離/mm |
試具厚度/mm |
|
0 |
2 |
|
12 |
4 |
|
180 |
24 |
GB4943.1-2022圖V.4楔形試具
