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IEC 62368-1附錄V可觸及零部件測試試具介紹
日期：2025-12-30 13:31
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摘要：深圳市創(chuàng)鑫儀器有限公司IEC 62368-1附錄V可觸及零部件測試試具
IEC 62368-1附錄V可觸及零部件測試試具
EC62368-1:2020音頻、視頻、信息和通信技術設備可觸及零部件
Figure V.1兒童可觸及設備鉸接式試驗試具
Figure V.1直式非鉸接試指
Figure V.2 兒童不可觸及設備鉸接試驗指
Figure V.2 直式無關節(jié)試指
Figure V.3 鈍頭試具
Figure V.4 楔形試具
Figure V.5 端子試具
通過使用適用的圖V.1或圖V.2直的無關節(jié)的試驗試具來進行試驗，施加30N±3N的力，短時間保持大約5S
用直的非鉸接式試具試驗開孔
V.1.3試驗方法2 用直的非鉸接式試具試驗開孔
對能阻止圖V.1或圖V.2的適用的鉸接式試具接觸零部件的開孔要再用直的非鉸接式的相關試驗試具，施加30N的力來進行試驗。如果非鉸接式試具進入開孔，則要重復進行試驗方法1的試驗，但要使用任何所需要的不大于30N的力，將相關的鉸接式試驗試具推入開孔。
